功能特點(diǎn): l采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度; l可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02); l具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE); l具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B); l設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)量次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV); 標(biāo)準(zhǔn)配置: 主機(jī)、打印機(jī)、F頭或N頭、標(biāo)準(zhǔn)片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)、鐵基體或鋁基體、充電器 可選附件: 探頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)、通信線纜、通信軟件 產(chǎn)品概述: 本儀器是一種便攜式測(cè)量?jī)x,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既 可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭,還可滿足多種測(cè)量的需要。本 儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn): GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》 產(chǎn)品用途: 本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)的儀器。 功能特點(diǎn): l采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度; l可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02); l具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE); l具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B); l設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)量次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV); l可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正; l具有存貯功能:可存貯640個(gè)測(cè)量值; l具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量; l可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析; l具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖; l具有電源欠壓指示功能; l操作過(guò)程有蜂鳴聲提示; l具有錯(cuò)誤提示功能,通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示; l設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式; 技術(shù)參數(shù): 測(cè)頭型號(hào) | F400 | F1 | F1/90° | F10 | N1 | CN02 | | 工作原理 | 磁 感 應(yīng) | 渦 流 | | 測(cè)量范圍(mm) | 0~400 | 0~1250 | 0~1250 | 0~10000 | 0~1250(銅上鍍鉻0~40) | 10~200 | | 低限分辨力(mm) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | | 示值 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(mm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | | 誤差 | 二點(diǎn)校準(zhǔn)(mm) | ±((1~3)%H+0.7) | ±((1~3)%H+1) | ±((1~3)%,H+1) | ±((1~3)%H+10) | ±[(1~3)%H+1.5] | | | 測(cè) 試 條 件 | 最小曲率半徑(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | 僅為平直 | | | 最小面積的直徑(mm) | F3 | F7 | F7 | F40 | F5 | F7 | | 基體臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無(wú)限制 | |
注:H——標(biāo)稱(chēng)值 測(cè)頭選用參考表: 覆蓋層 基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等) | 非磁性的有色金屬的覆層 (如鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) | 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積的直徑大于30mm | F1型測(cè)頭0-1250μm F400型測(cè)頭0-400μm | F1型測(cè)頭0-1250μm F10型測(cè)頭0-10mm | F400型測(cè)頭0-400μm F1型測(cè)頭0-1250μm | F1型測(cè)頭0-1250μm F10型測(cè)頭0-10mm | 被測(cè)面積的直徑小于30mm | F400型測(cè)頭0-400μm | F1型測(cè)頭0-1250μm F400型測(cè)頭0-400μm | F400型測(cè)頭0-400μm | F400型測(cè)頭0-400μm F1型測(cè)頭0-1250μm | 如銅、黃銅、鋁、鋅、錫等有色金屬 | 被測(cè)面積的直徑大于5mm | N1型測(cè)頭0-1250μm | N1型測(cè)頭只能測(cè)銅上鍍鉻0-40μm | 塑料、印刷線路板等非金屬基體 | 被測(cè)面積的直徑小于7mm | - | - | CN02型測(cè)頭10-200μm (主要用途測(cè)銅箔厚度) | |