1、產(chǎn)品簡介

該產(chǎn)品是一款便攜式、全數(shù)字式超聲波探傷儀，能夠快速便捷、無損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷（裂紋、夾雜、氣孔等）的檢測、定位、評估和診斷。既可以用于實(shí)驗(yàn)室，也可以用于工程現(xiàn)場。本儀器能夠廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、鋼鐵冶金業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等需要缺陷檢測和質(zhì)量控制的領(lǐng)域，也廣泛應(yīng)用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領(lǐng)域的在役安全檢查與壽命評估。

2、功能特色

探傷標(biāo)準(zhǔn)：內(nèi)置各行業(yè)常用探傷標(biāo)準(zhǔn)，直接調(diào)用，方便、快捷；

焊縫圖示：可設(shè)置焊縫形態(tài)參數(shù)，探傷中直觀顯示焊縫圖和缺陷在焊縫中的位置；

自動(dòng)校準(zhǔn)：探頭零點(diǎn)和探頭角度（K值）自動(dòng)校準(zhǔn)功能；聲速自動(dòng)測量功能；

波峰記憶：實(shí)時(shí)檢索缺陷波，記錄缺陷值；

缺陷定位：實(shí)時(shí)顯示缺陷水平、深度（垂直）、聲程位置；

缺陷定量：缺陷當(dāng)量dB值實(shí)時(shí)顯示；

缺陷定性：通過回波包絡(luò)波形，方便人工經(jīng)驗(yàn)判斷；

曲面修正：用于曲面工件探傷，可實(shí)時(shí)顯示缺陷周向位置；

DAC/AVG：曲線自動(dòng)生成，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。曲線隨增

益自動(dòng)浮動(dòng)、隨聲程自動(dòng)擴(kuò)展、隨延時(shí)自動(dòng)移動(dòng)。能顯示任意孔徑

的AVG曲線；

AWS D1.1: 美國焊接學(xué)會標(biāo)準(zhǔn)，為各類AWS焊縫檢測應(yīng)用提供一個(gè)動(dòng)態(tài)反射體“缺陷定級”?？杀苊馐止び?jì)算，提高檢測效率；

裂紋測高：利用端點(diǎn)衍射波自動(dòng)測量、計(jì)算裂紋高度；

門內(nèi)展寬：放大回波細(xì)節(jié)，便于回波分析；

連續(xù)記錄：實(shí)時(shí)記錄波形，存儲、回放，支持100個(gè)錄像文件，錄像總時(shí)長為15小時(shí)以上；

波形凍結(jié)：凍結(jié)屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析；

回波編碼：以不同顏色顯示1~6次回波顯示區(qū)，便于判斷缺陷位置；

B型掃描：實(shí)時(shí)掃查、橫截面顯示，可顯示工件缺陷形狀，使探測結(jié)果更直觀。

3 技術(shù)參數(shù)

檢測范圍： (0~9999)mm；

工作頻率： (0.2~20)MHz；

顯示分辨率：640*480；

聲速范圍： (1000~15000)m/s；

動(dòng)態(tài)范圍： ≥36dB；

垂直線性誤差：≤2.5%；

水平線性誤差：≤0.1%；

分辨力：>40dB(5P14)；

靈敏度余量：>65dB(深200mmФ2平底孔)；

數(shù)字抑制： (0~80)%，不影響線性與增益；

電噪聲電平：≤8%；

探頭類型：直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭；

閘門：進(jìn)波門、失波門；單閘門讀數(shù)、雙閘門讀數(shù)；

報(bào)警：蜂鳴報(bào)警，LED燈報(bào)警；

脈沖幅度：200V、300V、400V、500V、600V分級選擇；

脈沖寬度： 在(0.1~0.5)µs范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié)，以匹配不同頻率的探頭；

探頭阻尼：68Ω、100Ω、150Ω、500Ω可選；

硬件實(shí)時(shí)采樣：高分辨率10位AD轉(zhuǎn)換器，采樣速度160MHz，波形高度保真；

檢波方式： 正半波、負(fù)半波、全波、射頻檢波；

濾波頻帶：（0.2~20）MHz，根據(jù)探頭頻率全自動(dòng)匹配，無需手動(dòng)設(shè)置；

電源：直流（DC）9V；鋰電池連續(xù)工作8小時(shí)以上；

通訊接口：USB2.0高速通訊傳輸接口，支持U盤模式和數(shù)據(jù)連結(jié)模式；

數(shù)據(jù)存儲：儀器內(nèi)置海量存儲器，支持1000組探傷參數(shù)通道，可存儲10000幅探傷回波信號及參數(shù)，實(shí)現(xiàn)存儲、讀出及通過USB接口傳輸；

外型尺寸：263×170×61(mm)；

環(huán)境溫濕度： (-10~50)℃；(20~95)%RH。

注：以上指標(biāo)是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測得。

4 儀器配置