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MiniTest1100210031004100涂層測厚儀

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詳細描述MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

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詳細描述
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
型號 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,并可設(shè)寬容度極限值) - 1 10 99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù) - 1 500 500
數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar -    
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar - - -
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) - - -
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 - -
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 -
設(shè)置極限值 - -
連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別*大*小值 - -
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
連續(xù)測量模式中顯示*小值
 


MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù):
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層  
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層   
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率
誤差 *小曲率
半徑(凸/凹)
*小測量直徑 *小基
體厚度
探頭尺寸 備注


應(yīng)
F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm 磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm 磁性測頭
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm 90度磁性測頭;尤其適合于在管內(nèi)壁測量
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm 磁性測頭;可用于較厚的覆層
F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μm
φ15x62mm 兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm
N50μm
φ21x89mm 兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μm
φ15x62mm 磙性渦流測頭



N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm 非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm 非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm 磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內(nèi)壁測量
N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板
 

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
 


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