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涂層測(cè)厚儀DT3000

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涂層測(cè)厚儀DT3000 產(chǎn)品概述:涂層測(cè)厚儀DT3000(又稱覆層測(cè)厚儀)是一款多功能涂層測(cè)厚儀, 該儀器能精準(zhǔn)、快速、無損傷、精密地、進(jìn)行涂、鍍層、漆膜,氧化層等厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。 涂層測(cè)厚儀DT3000可以配不同的測(cè)頭,可滿足各種工件的測(cè)量要求。 涂層測(cè)厚儀DT3000特別增加了F05探頭,可測(cè)細(xì)小工件上的涂層。 產(chǎn)品特點(diǎn): ●菜單操作,方便快捷 ●可使用多種測(cè)頭:F05,F1、F3,F10、N400,N1、N3; ●具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值 ●具有電源欠壓指示功能 ●手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)......

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產(chǎn)品概述:

     ●磁性法(F型測(cè)頭)當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí),測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度.
    ●渦流法(N型測(cè)頭)利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫? 通過測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

產(chǎn)品特點(diǎn):

◎采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度;
◎可使用多種測(cè)頭:F05,F1、F1/90°、F3,F10、N400,N1、N3;
◎具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
◎具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B);
◎設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);
◎可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
◎具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值;
◎具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;
◎可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;
◎具有電源欠壓指示功能;
◎操作過程有蜂鳴聲提示;
◎具有錯(cuò)誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示;
◎設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;

技術(shù)參數(shù)

測(cè)頭型號(hào)  F05 F1/F1/90 F3 F10 N1 N3
工作原理  磁感應(yīng)  電渦流 
測(cè)量范圍(um)  0-500 0-1250 0-3000 0-10000 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) 0-3000
低限分辨力(um) 0.1 0.1 1 0.1 1
示值
誤差 
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[3%H+0.7] ±[3%H+10] ±[3%H+10] ±[3%H+1.5] ±[3%H+1]
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[1%H+0.7] ±[1%H+1] ±[1%H+1] ±[1%H+1] ±[1%H+1.5] -
測(cè)量
條件 
最小曲率半徑(mm) 凸 1 凸1.5 平直  5 10 3 6
基體最小面積的直徑(mm) ф3 ф7 Ф10 ф40 ф5 ф7
最小臨界厚度(mm) 0.2 0.5 1 2 0.3 1

探頭的選擇:

覆蓋層  有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等) 非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
基體  覆蓋層厚度不超過100μm 覆蓋層厚度不超過100μm 覆蓋層厚度超過100μm
如 鐵、鋼等磁性金屬  被測(cè)面積的直徑大于30mm F05;F1,F3 05;FF1,F3,F10 F05;F1,F3 F05;F1,F3,F10
被測(cè)面積的直徑小于30mm F05;F1,F3 F05;F1,F3,F10 F05;F1,F3 F05;F1,F3,F10
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、錫等 有色金屬  被測(cè)面積的直徑大于10mm N1 N1,N3 ----------------
塑料、印刷線路非金屬基體  測(cè)面積的直徑小于10mm - 1 ----------------
標(biāo)準(zhǔn)配置:    主機(jī)1; F1或N1測(cè)頭1; 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片1(含試片5片,基體1塊); 電池 2節(jié);  隨機(jī)文件; 儀器專用箱


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