NIKON日本尼康XT V 160 - X射線檢測系統(tǒng)

NIKON日本尼康XT V 160 - X射線檢測系統(tǒng)

XT V 160：電子檢測用納米技術(shù)（NanoTech） X射線系統(tǒng) 
XT V 160也被稱為Revolution，是利用X-Tek 20年納米級焦點X射線技術(shù)方面的經(jīng)驗研制開發(fā)的產(chǎn)品。

    該系統(tǒng)提供了一個結(jié)構(gòu)緊湊的系統(tǒng)內(nèi)可能獲得的zui高分辨率和放大倍數(shù)，非常適用于生產(chǎn)線上和故障分析實驗室內(nèi)電子零部件的檢測。
    XT V 160是一款通用工具，使操作人員很方便地利用該系統(tǒng)的手動和編程檢測功能。zui為重要的是，它可用于計算機斷層掃描CT檢測，根據(jù)其完整的三維圖像，重構(gòu)該試樣。 
    設(shè)計用于* BGA和μBGA 檢測，多層板檢測和PCB焊接點檢測，XT V 160 X射線檢測系統(tǒng)是一個使用簡便，分辨率高和成本低廉的檢測解決方案，是檢測實驗室*的骨干設(shè)備。

XT V 160 檢測優(yōu)點

• 操作使用直觀
• 能在很短的時間內(nèi)獲得高質(zhì)量圖像
• 市場的放大倍數(shù)，適用于*板檢測
• 75°傾斜視角（板平面的方位角為15°）
• 購置成本低
• 安全裝置，可作為設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)
• 占用空間小