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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀

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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。

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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點
◆消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。

◆可測定微小領(lǐng)域的反射率
用對物鏡對焦于小區(qū)域(φ60μm),可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點。

◆測定時間短
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定,可迅速實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

◆XY色度圖、L*a*b測定可能
以分光測定法為基準(zhǔn),從分光反射率情況可測定物體顏色。

◆可測定的Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚
用于涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途:

1、各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取透鏡等)

2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀:規(guī)格
測定波長380 nm~780 nm
測定方法與參照樣本的比較測定
被檢物N.A.0.12(使用10×物鏡時) 
0.24(使用20×物鏡時) 
* 與物鏡的N.A.不同。
被檢物W.D.10.1 mm(使用10×物鏡時) 
3.1 mm(使用20×物鏡時)
被檢物的曲率半徑-1R ~-∞、+1R~∞
被檢物的測定范圍約ø60 μm(使用10×物鏡時) 
約ø30 μm(使用20×物鏡時)
測定再現(xiàn)性(2σ)±0.1%(380 nm~410 nm測定時) 
±0.01%(410 nm~700 nm測定時)
顯示分辨率1 nm
測定時間數(shù)秒~十幾秒(因取樣時間而異)
光源規(guī)格鹵素?zé)簟?2 V 100 W
載物臺Z方向驅(qū)動范圍85mm
PC接口USB方式
裝置重量機身:約20 kg(PC、打印機除外) 
光源用電源:約3 kg 
控制器盒:約8 kg
裝置尺寸機身: 
300(W)×550(D)×570(H) mm 
光源用電源: 
150(W)×250(D)×140(H) mm 
控制器盒: 
220(W)×250(D)×140(H) mm
電源規(guī)格光源用電源: 
100 V(2.8 A)/220 V AC 
控制器盒: 
100V(0.2A)/220V AC
使用環(huán)境水平且無振動的地方 
溫度: 23±5 °C 
濕度: 60%以下、無結(jié)露

* 本裝置不保證溯源體系中的精度。 
* 可以特別訂做測定波長440 nm~840 nm規(guī)格。


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