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X射線(xiàn)光電子能譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)
X射線(xiàn)光電子能譜儀(XPS)是一種*的表面分析技術(shù)，它利用X射線(xiàn)激發(fā)樣品表面元素的內(nèi)層能級(jí)電子信號(hào)，再用電子能譜儀檢測(cè)光電子的動(dòng)能及強(qiáng)度，進(jìn)而確定元素的種類(lèi)及價(jià)態(tài)等信息，主要用于研究材料極表面的元素及元素不同價(jià)態(tài)組成。本文將介紹XPS的優(yōu)缺點(diǎn)。
XPS的優(yōu)點(diǎn)
1、能快速、同時(shí)對(duì)除H和He以外的所有元素進(jìn)行元素定性、定量分析，幾分鐘內(nèi)就可完成；可以直接測(cè)定來(lái)自樣品單個(gè)能級(jí)光電發(fā)射電子的能量分布，且直接得到電子能級(jí)結(jié)構(gòu)的信息。
2、對(duì)試樣與探測(cè)器的幾何位置要求低：對(duì)W.D的要求不是很?chē)?yán)格；可以在低倍率下獲得X射線(xiàn)掃描、面分布結(jié)果。
3、能譜所需探針電流小，是一種無(wú)損分析。對(duì)電子束照射后易損傷的試樣，例如生物試樣、快離子試樣、玻璃等損傷小。
4、是一種高靈敏超微量表面分析技術(shù)。分析所需試樣約8-10g即可，靈敏度高達(dá)10-18g，樣品分析深度約2nm。
XPS的缺點(diǎn)
1、分辨率低，比X射線(xiàn)波長(zhǎng)色散譜儀的分辨率(~10電子伏)要低十幾倍；
2、峰背比低(約為100)，比X射線(xiàn)波長(zhǎng)色散譜儀的要低10倍，定量分析尚存在一些困難；
3、Si(Li)探測(cè)器必須在液氮溫度下保存和使用，因此要保證液氮的連線(xiàn)供應(yīng)；
4、不能分析Z小于11的元素，分辨率、探測(cè)極限以及分析精度都不如波譜儀。因此，它常常跟波譜儀配合使用。
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