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簡介：日立臺式掃描電鏡TM4000TM4000”和“TM4000Plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率

簡介：日本Hitachi在電子顯微鏡領(lǐng)域一向以技術(shù)潮流著稱：1972年發(fā)布一臺場透射電子微鏡，經(jīng)過30多年的發(fā)展，日立開發(fā)、應(yīng)用了大量的新技術(shù)，例如電子槍多重偏壓、浸沒式(In-lens)、半浸沒式(S...

簡介：臺式SEM進(jìn)入新紀(jì)元。畫質(zhì)更加清晰，操作更加便捷，觀看更加直觀。TM4000系列搭載，可滿足“更好”的觀察需求。臺式SEM應(yīng)用范圍更廣，助力您的事業(yè)發(fā)展。

簡介：日立新型高分辨場發(fā)射掃描電鏡SU8000系列，是被廣泛認(rèn)可的S-4800的升級機型，活躍于各*研究與分析領(lǐng)域的Z前沿。其搭載性能優(yōu)異的冷場發(fā)射電子槍，采用日立設(shè)計的SuperEB能量過濾技術(shù)，以高...

簡介：·Quattro掃描電鏡具有環(huán)境真空功能的極靈活、多功能高分辨率掃描電鏡

簡介：?Apreo革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生的高分辨率和信號選擇

簡介：MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng)：新型電子光學(xué)系統(tǒng)，可達(dá)到高水準(zhǔn)的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質(zhì)TEM樣品制備成為可能可用于截面加工...

簡介：追求的TEM樣品制備工具在設(shè)備及高性能納米材料的評價和分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來，目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。日立高新公司，整合了高性能FIB技...

簡介：追求理想的三維結(jié)構(gòu)分析通過自動重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。采用的鏡筒布局，從材料、設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實現(xiàn)傳統(tǒng)機型難以...

簡介：1.搭載兩種透鏡模式的高性能SEM鏡筒HR模式下可實現(xiàn)高分辨觀察（半內(nèi)透鏡）FF模式下可實現(xiàn)高精度加工終點檢測（TimesharingMode）2.高通量加工可通過高電流密度FIB實現(xiàn)快速加工（束...