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簡介：RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾...

簡介：BY.79-51型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。

簡介：常州同惠TH2661直流低電阻測試儀，四探針測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提...

簡介：LY.4-8型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準而設計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀...

簡介：本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。

簡介：儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。

簡介：四探針測試儀

簡介：BY.79-51型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方...

簡介：詳情請

簡介：SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10-6--105Ω—cm全量...