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簡(jiǎn)介：產(chǎn)品名稱(chēng)：雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品貨號(hào)：wi94293產(chǎn)地：國(guó)產(chǎn)

簡(jiǎn)介：KDY-1型四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱(chēng)電阻率測(cè)試儀）是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。

簡(jiǎn)介：測(cè)量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的手持式設(shè)計(jì)；體積僅為：185mm(長(zhǎng))*90mm(寬)*30mm(高)；重量：350g；使用鋰電池供電，一次充電可連續(xù)使用100小時(shí)；

簡(jiǎn)介：儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。

簡(jiǎn)介：測(cè)量范圍電阻率：0.001～200Ω.cm(可擴(kuò)展)；方塊電阻：0.01～2000Ω/□(可擴(kuò)展)；電導(dǎo)率：0.005～1000s/cm；電阻：0.001～200Ω.cm；可測(cè)晶片直徑140mmX...

簡(jiǎn)介：1．主機(jī)采用的*電路設(shè)計(jì)，所測(cè)數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn)（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點(diǎn)：體積大，速度慢，元器件繁多導(dǎo)致影響機(jī)器壽命）。2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數(shù)碼管顯示），手自一體（自動(dòng)是標(biāo)配，手動(dòng)手...

簡(jiǎn)介：數(shù)字式四探針測(cè)試儀，是二量程的電阻測(cè)量?jī)x器，配以手持式測(cè)試頭或座式測(cè)試架，可用來(lái)測(cè)量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。。(客戶(hù)根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程...

簡(jiǎn)介：RTS-9型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱(chēng)雙位組合)測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線(xiàn)四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾...

簡(jiǎn)介：4型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。

簡(jiǎn)介：儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。